LPCVD TEOS 与 PECVD TEOS 的综合对比
LPCVD TEOS 与 PECVD TEOS 的综合对比1. 设备原理参数LPCVD TEOSPECVD TEOS反应环境高温(600-800°C)、低压(0.1-1 Torr)低温(200-400...
智于博客迁移至芯知社区
通知:智于博客 迁移至 芯知社区 http://blog.iccourt.com感谢大家一直以来的支持,小编将继续努力推出更有深度,更有品质的博文,敬请期待。...
公开课:微电子工艺 视频教程
微电子工艺是一门介绍半导体集成电路制造技术的课程。我们每个人身边都会有几件电子产品,如电子钥匙、手机、平板电脑等,它们的核心部件都是集成电路芯片,通过本课程的学习能使大家了解这些芯片是如何做出来的,为...
第三代半导体材料之碳化硅(SiC)[转]
通知:智于博客 迁移至 芯知社区 http://blog.iccourt.com感谢大家一直以来的支持,小编将继续努力推出更有深度,更有品质的博文,敬请期待。碳化硅(SiC)材料是...
碳化硅(SiC)MOSFET技术发展史回顾[转]
碳化硅(SiC)MOSFET技术发展史回顾碳化硅(SiC)是一种广泛使用的老牌工业材料,1893年已经开始大规模生产了,至今一直在使用。不过自然界中很难找到碳化硅,在陨石中的矿物莫桑石会含有碳化硅。由...
PECVD SiNx 薄膜应力的研究
PECVD SiNx 薄膜应力的研究摘要 等离子增强化学气相淀积(P lasma2enhanced Chem ical V aper Depo sit ion, PECVD )SiN x 薄膜在微电子...
炉管(Furnace)设备工艺经验8年笔记
通知:智于博客 迁移至 芯知社区 http://blog.iccourt.com感谢大家一直以来的支持,小编将继续努力推出更有深度,更有品质的博文,敬请期待。Furnace IntroductionØ...
Implant SIMS笔记(离子注入机二次离子质谱笔记)
首先,我们来看下什么是SIMS? 技术原理(https://www.ma-tek.com/zh-cn/services/index/Pro_category_06)材料经由...
LPCVD多晶硅(Poly)的形貌和显微结构研究
研究了低压化学气相沉积(LPCVD)多晶硅薄膜的形貌和微观结构与沉积条件的关系。 沉积温度为540~640℃,沉积态多晶硅薄膜表面粗糙,具有(...
关于碳化硅SiC栅氧(Gate Oxide)以及NO 退火
1. Introduction 我们生活在一个能源匮乏的世界,在这个世界上,工业化和全球化已经成为一种趋势加速了对资源的需求,现在大约每40年翻一番。今天,我们消耗约18太瓦(18×101...